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日本进口TECLOCK得乐数显测厚仪介绍 PF-11J PFD SMD

 发布时间:2022-04-04 点击量:235

日本进口TECLOCK得乐数显测厚仪百分表介绍和使用 PF-11J PFD617 SMD540

日本进口TECLOCK得乐数显测厚仪百分表介绍和使用 PF-11J PFD617 SMD540由深圳市安川测量仪器有限公司特价销售日本进口TECLOCK得乐数显测厚仪介绍 PF-11J PFD SMD,恒压数显测厚仪用于测量橡胶/热塑性弹性体、塑料薄膜、布匹、纺织品、皮革等物理测试的试片厚度,具有立式(固定式)和框架式(手提式)两种类型。

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数显测厚仪PF-11J

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品阵容广泛,适用于各种行业标准。 

所有机型砝码式的高精度数位板,实现了使用齿轮和弹簧等的模拟式量规无法得到的稳定的静负荷。

 PG系列在测量台上除了使用高平滑性以外,还使用耐磨损性、耐化学药品性等优异的石平台(微孔石墨) 不易划伤,也不用担心金属制的请求。 在测量头砧上寻找不锈钢铜(部分除外)。 提高了耐酸性、耐碱性、耐水性。

 电源是不需要充电的纽扣型电池。 便于携带。 

也可以变更测量头、测量压力等。 (但不符合标准规格)

立式测厚仪+台座PG-20G

 测量头直径5mm,压力变更只需装卸砝码即可进行。

立式测厚仪+台座PG-20G

 测量头直径5mm,压力变更只需装卸砝码即可进行。

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数显测厚仪使用注意:

1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

测量时侧头与试样表面保持垂直。

测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。

测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。

 


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